IC芯片完成加工制造工序后，需要一一进行测试和分类，芯片分类存放有利于芯片的合理使用。测试分选机是将已经通过预定制造工序制造的半导体装置电连接至测试器并且根据测试结果将半导体装置分类的设备。
最初，人们对芯片测试后，是靠人工分类放置的，不仅效率低，还容易发生错误。现有技术中已有自动测试分选机，例如专利公开号：CN 102698969 A,公开日：2012年10月03日，发明创造名称为：一种IC芯片自动测试分选机，该申请案公开了一种IC芯片自动测试分选机，包括可将堆积的实料盘逐一分离的上料实托盘分离输入装置，和料船模组装置。
包括受控于伺服电机左右摆动的用于放置待测芯片的左料船和用于放置测试后芯片的右料船；用于放置右料船中测试合格芯片的合格品分类收集模组，以及用于放置测试不合格芯片的次品分类收集模组。将待测试和分选的满托盘芯片经过托盘分离输入装置自动输入到位，经上料抓手平台装置逐一转送到料船。
测试抓手组合模组装置将左料船上待测芯片准确吸住并移入测试位接受测试，再放回右料船进一步将测试后的芯片送到分类选方位，由下料分选抓手平台装置根据测试结果分类放入相应的成品托盘或者次品托盘中，满盘后再有序送出机外。但该申请案的测试分选机和现有技术中大多数测试分选机一样，测试分选品种规格单一，即一种机器只能测试分选一种芯片，不能满足当今芯片品种规格多、分类细的要求。综上所述，如何克服现有IC芯片测试分选设备测试分选的产品规格单一的缺陷，是现有技术中亟需解决的技术问题。
