一种自动化IC测试分选设备，其特征在于：包括安装于机架（1）的且自上而下依次设置的上料装置（100）、测试装置（200）和分选收料装置（300），所述机架包括垂直设置的第一安装板（2008）以及与所述第一安装板的底部连接且倾斜设置的第二安装板（3001）。

    IC料管（1001）装夹于上料装置，通过所述上料装置将所述IC料管内的未测试的IC芯片（2009）供给所述测试装置测试，测试完毕后通过所述分选收料装置分类并收纳于多个空料管（3009）内。

    所述上料装置包括水平设置的载料台（1002）、用于将所述IC料管内的IC芯片取出的上料机构（1003）和用于所述IC芯片传输的垂直料道（1004），所述载料台位于所述第一安装板的上方，所述垂直料道安装于所述第一安装板且与所述载料台垂直。

    所述载料台设有料仓（1005）和推送机构（1006），所述IC料管水平叠加放置于所述料仓内，所述推送机构位于所述料仓的底端，所述推送机构包括上料滑块（10061）和驱动所述上料滑块的驱动单元（10062），所述上料滑块能够夹持所述料仓内的一个所述IC料管并通过所述驱动单元将其推出至所述载料台的预定位置。